株式会社シグリードでは、SSD（Solid State Drive）用誤り訂正方式の研究開発やSSDコントローラLSIの開発を行っています。その開発経験を通して培ったNANDフラッシュメモリの評価技術やエラー解析技術を搭載したNAND解析システムSigNASを提供しております。SigNASを用いることによって、NANDフラッシュメモリの信頼性評価やエラー解析を容易に行うことができます。Toggle DDRやONFI Synchronousなど、最新NANDインターフェースにも対応しています。
　SigNASにご興味のあるお客様は、是非一度、弊社担当者までご連絡ください。お見積もりや詳細情報の提供をさせていただきます。

NAND解析システム（SigNAS II）のカタログ ⇒ ダウンロード (422KB)
NAND Analyzer System (SigNAS II) Catalog : Download (400KB)

旧製品（SigNAS）のカタログ : ダウンロード (416KB)

　各メーカーのNANDフラッシュメモリの動作検証、アクセスタイム測定、エラー解析、エラー発生原因の調査、誤り訂正符号の効果測定などを容易に行うことができる解析システムです。ビットエラーレート、ECC後のページエラーレート、Data Retention や Program Disturb、Read Disturb によって発生するビットエラー、エラー発生分布などを測定することができます。
　アルテラ社Cyclone III FPGAを搭載したマザーボード、NANDフラッシュメモリ用TSOPソケットを搭載したドーターボード、Windowsベースの解析ソフトウェアで構成されます。

1. マザーボード（Sp3991）

・アルテラ（Altera）社製Cyclone IIIを搭載
・コンフィグROMにNANDコントローラを搭載済み
・PC接続用USB2.0
・ドーターボードを2台接続することにより、最大4個のNANDフラッシュメモリを同時測定することが可能
・より多くのNANDフラッシュメモリの同時測定もカスタマイズ対応可能

2. ドーターボード

・NANDフラッシュメモリ用TSOP48ピンソケット搭載
・1台のドーターボードに2個のNANDフラッシュメモリを搭載可能
・他のソケット（BGAなど）もオプションでご用意

3. 解析ソフトウェア

【解析ソフトウェアでできること（抜粋）】
・NANDインタフェースタイミングの設定
・NANDデバイスのID情報やStatusの取得
・Bad Blockスキャン
・アクセスタイム測定
・アクセスタイムのP/E Cycle依存性測定
・コマンドの発行（Erase, Program, Read）
・Programパターンの設定（Increment, Pseudo Random, Page Stripeなど）
・Readデータのダンプおよびファイル保存
・P/E Cycle（サイクル数、Programパターンの指定可能）
・スクリプト実行機能（Siglead Script Language; SSL）
・エラーレート測定（Bit Error Rate, Page Error Rate after ECC）
・ECC訂正能力の設定（符号長、訂正可能ビット数）
・Data Retention測定（時間 vs ビットエラー数）
・Program Disturb測定（P/E Cycle vs ビットエラー数）
・エラー分布解析（Page依存性とColumn依存性）

・ONFI2.2準拠のデバイス（SLC/MLC）
・Toggle DDRやSynchronousにも対応
・東芝、Samsung、Micron、Intel、Hynixの最新デバイスで動作確認済（2xnm世代まで）
・万が一、動作しないデバイスがあった場合、ご相談頂けますとシステム調整が可能なケースがあります

　ご購入後1年間、電話およびメールによる技術サポートと、解析ソフトウェアのバグフィックスやバージョンアップを無償でご提供します。1年経過後のサポートには、別途サポート契約が必要です。

　本解析システムの納品物は下記5点であり、導入していただいたその日から解析をスタートすることができます。

・マザーボード（Sp3991）
・ドーターボード（TSOP版1台）
・解析ソフトウェア
・NANDコントローラ回路とファームウェア（マザーボードのコンフィグレーションROMに搭載）
・操作説明書

NAND解析システム（SigNAS）に関する技術詳細、最新情報、カスタマイズのご要望など、お問い合わせは 弊社担当者 までご連絡ください。

※記載内容は改良などのため予告なく変更することがあります。