SSD開発向けFPGAボードのカタログ ⇒ ダウンロード (488KB)

　アルテラ(Altera)社StratixIII FPGAとNANDフラッシュメモリ、DDR SDRAM、NORフラッシュメモリ、SATA2.6インターフェースを標準で搭載し、SSDの開発やNANDコントローラの開発・評価に適したFPGAボード/FPGA評価基板です。

　SSD開発用に下記のソリューションもご用意しております。
　・NAND解析システム（SigNAS）
　・SSDコントローラLSI
　・SSDコントローラ用F/W
　・SSD用PCB基板

・SSDコントローラ用誤り訂正符号(ECC)の開発
・SSDコントローラ用ファームウェア(F/W)の開発
・NANDフラッシュメモリのエラー解析
・SSDの動作確認・接続性検証

・アルテラ（Altera）社製StratixIIIを搭載（下記デバイスを選択可能）
EP3SL110F1152, EP3SL150F1152, EP3SL200F1152, EP3SL340F1152
EP3SE80F1152, EP3SE110F1152, EP3SE260F1152

・ザイリンクス（XILINX）社製Virtex-5を搭載
XC5VLX20T

※上記2つのFPGAをシグリード製コントローラLSI（開発コード：SPRING）に載せ替えた開発ボードの提供に関しても計画中

・NANDフラッシュメモリ
TSOP48ピン 8bitを16枚搭載可能
※NANDフラッシュメモリはお客様よりご提供いただいたものを搭載することも可能です

・その他メモリ
128MByte DDR SDRAM
32MByte NORフラッシュメモリ

・インターフェース
SATA2.6 : 3.0Gbps
PATA
USBシリアルI/F
外部基板接続用80ピンコネクタ : ユーザー40ピン

・クロック
25.000MHzオシレータ
150.0MHzオシレータ (for SATA)

・コンフィグレーション
シリアル・コンフィグレーション・デバイス
JTAGダウンロードポート

・汎用ユーザインターフェース
DIPスイッチ x12
プッシュボタン x12
LED x16

・12V ACアダプタ電源

・サイズ : 148mm x 210mm

　SSD開発向けFPGAボード（Sp3990）とWindowsベースの解析ソフトウェアを組み合わせたNAND解析システムSigNASもご用意しております。各メーカーのNANDフラッシュメモリの動作検証、エラー解析、エラー発生原因の切り分け、誤り訂正符号の効果測定などを容易に行うことができます。

解析ソフトウェアでできること（一例）
・エラーレート測定（Bit Error Rate, Page Error Rate after ECC）
・Data Retention測定（時間 vs ビットエラー数）
・Program Disturb測定（P/E Cycle vs ビットエラー数）
・エラー分布解析（Page依存性とColumn依存性）

詳細仕様は、NAND解析システムSigNAS の紹介ページをご覧ください。

SSD開発向けFPGAボードに関する技術詳細、最新情報、カスタマイズのご要望など、お問い合わせは 弊社担当者 までご連絡ください。

※記載内容は改良などのため予告なく変更することがあります。